Chroma 3650-CX SoC測試系統(tǒng)的軟體測試環(huán)境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform),，是一個結(jié)合工程 開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個部 份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組,、程式除錯 模組以及測試機臺管理模組,。透過親切的圖形 人機介面的設計，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除 錯工具,，包含 :Datalog, Shmoo plot,、Waveform tool、Scope tool,、Pin Margin,、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等 軟體模組,，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時 的需求與產(chǎn)線人員量產(chǎn)時的需求,。

All-in-One小型化機臺設計節(jié)省占地面積
3650-CX將所有的測試儀器模組與機臺的電源系 統(tǒng)全部整合在單一個測試頭的空間里，并且采用 氣冷式的設計,。透過如此高整合度的小型化設 計，可以大幅減少機臺的占地面積,，以節(jié)省整體 的測試成本,。

周邊設備
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅(qū)動程式介面 (TTL & GPIB) ， 可進行與晶圓針測機和送料機,， 包括SEIKO-EPSON,、SHIBASOKU、MULTI-TEST,、 ASECO,、DAYMARC、TSK,、OPUS II等等裝 置之間的溝通,。

Chroma 3650-CX SoC測試系統(tǒng)的特色：

• 50/100MHz測試工作頻率
• 256個 I/O 通道(I/O Channel)
• 16/32 MW vector 記憶體
• 16/32 MW pattern instruction 記憶體
• Multi-site 測試可達 32 sites
• 16個 DPS 通道
• 8個 PMU 通道
• Per-Pin 時序頻率測試單位
• 大可選購1024M bit x 4 CH scan depth
• 可選購記憶體測試用ALPG
• 高達 16 high-voltage pins
• 16 個高性能 DPS 通道
• 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
• Windows® XP操作環(huán)境
• C++ 程式語言與圖形人機介面設計
• 采用CRISP完整多樣的系統(tǒng)軟體工具
• 與周邊設備相容性高
• All-in-One小型化氣冷式機臺設計，節(jié)省占地面積
• Cable Mount / Direct Mount